Spannungen im Quarzglas lassen sich in polarisiertem Licht leicht sichtbar machen.
Die intrinsischen UV- und IR-Absorptionskanten liegen bei Quarzglas ungefähr bei einer Wellenlänge von 180 nm bzw. 3,5 μm. Die Absorptionskante im UV resultiert aus elektronischen Übergängen innerhalbdes Si-O-Netzwerks, die einsetzen, sobald die Photonenenergie die Bandlückenenergie des Netzwerks überschreitet. Die intrinsische Kante im IR ist durch (Multiphonon) Gitterschwingungen des Si-O-Netzwerks bedingt.
Dabei werden zunächst die verschiedenen Obertöne der fundamentalen Schwingungsmoden der SiO4-Tetraeder beobachtet. Durch Verunreinigungen werden diese intrinsischen Absorptionskanten weiter modifiziert. Metallische Verunreinigungen verschieben die UV-Kante zu höheren Wellenlängen. Wasser (OH) erzeugt Absorptionsbänder direkt unterhalb der IR-Kante. Das stärkste dieser Bänder ist das Band der fundamentalen O-H-Streckschwingung bei 2,73 μm.
Die Abbildungen unten zeigen Transmissionsspektren von Quarzglas auf der Wellenlängenskala.
